52400 - Carte PXI, Source Mesure (SMU) haute précision

52400 - Carte PXI, Source Mesure (SMU) haute précision

Ce produit est actuellement en rupture et indisponible.

Fonctionnalités principales
  • Carte PXI compatible hybride
  • Fonctionnement à quatre quadrants
  • Haute résolution de source/mesure (plages multiples)
  • Faible bruit de sortie
  • Vitesse de programmation/mesure élevée (100 ke/S)
  • Journal de mesure facultatif
  • Bits DIO
  • Profilage de sortie par séquenceur matériel
  • Résistance de sortie programmable
  • Sortie flottante et de protection
  • 16 Sélection de la largeur de bande de contrôle
  • Fonction maître/esclave
  • Pilote avec LabView / LabWindows et API C / C #
  • 5Interface graphique Softpanel
Demander un devis
Demander un devis

La série Chroma 52400 est une carte SMU (Source Measurement Unit) basée sur PXI conçue pour une simulation de source ou de charge très précise avec des mesures de tension et de courant de haute précision.

SMU combine quatre quadrants de source avec haute précision et haute vitesse de mesure. Cette fonctionnalité unique fait de l’instrument SMU l’instrument idéal dans de nombreuses applications de test paramétrique allant des IC, des composants à deux conducteurs tels que les capteurs, les LED, les diodes laser, les transistors, les cellules solaires, les batteries et de nombreux autres appareils électroniques.

Pour répondre aux différentes exigences de test, la série 52400 dispose de 16 largeurs de bande de contrôle permettant à l’utilisateur de sélectionner une opération stable, multi-gammes combinées avec 18 bits DAC / ADC fournir la meilleure résolution de programmation et de mesure et la précision disponible à un taux d’échantillonnage de jusqu’à 100k s / S. La résistance de sortie programmable spéciale permet à l’utilisateur de régler la résistance interne d’une batterie en série, ce qui fait du SMU Chroma 52400 un outil idéal agissant comme un simulateur de batterie.

± force, ±  sense et ± lignes de garde sont standard pour éviter le courant de fuite et réduire le temps de décantation particulièrement pour les applications mobiles d’essai de CI et de capteur exigeant le courant très bas.

La série 52400 est dotée d’un séquenceur  breveté qui utilise un timing déterministe pour contrôler chaque SMU. Ce séquenceur est livré avec mémoire de stockage intégrée 32 k lectures, il permet la synchronisation cross-module / carte et latence libre de contrôle de sortie et de mesure. Cette mesure est possible car aucune communication PC n’est nécessaire pendant le processus d’essai.

C / C # et diverses versions d’API LabView / LabWindows plus un SFP (Soft Front Panel) sont offerts en tant qu’accessoires standard. Les connecteurs arrière sont compatibles avec les châssis PXI et PXIe. Toutes ces fonctionnalités permettent une intégration plus simple aux systèmes PXI ou PXIe conçus pour n’importe quelle application.

  • Semiconducteur
  • Test LED / Diode laser
  • Test de batterie
  • Test de transistor
  • Test de cellules solaires
  • Essai de véhicule électrique
  • Test Avionique
  • Test de l’électronique de puissance
  • Test deu capteur

Ce produit est actuellement en rupture et indisponible.

a35736714365f5b5020a8894014d25f5??????????????